半導(dǎo)體參數(shù)測試儀能測試很多電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導(dǎo)/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導(dǎo)通內(nèi)阻Rds(on)）。

測試種類覆蓋7大類別26分類，包括“二極管類”“三極管類（如BJT、MOSFET、IGBT）”“保護(hù)類器件”“穩(wěn)壓集成類”“繼電器類”“光耦類”“傳感監(jiān)測類”等品類的繁多的電子元器件。

高壓源標(biāo)配1400V（選配2KV），高流源標(biāo)配100A（選配40A,200A,500A）

控制極/柵極電壓40V，柵極電流100mA

分辨率最高至1.5uV / 1.5pA，精度最高可至0.1%

STD2000半導(dǎo)體參數(shù)測試儀適用于半導(dǎo)體參數(shù)測試還可測試“結(jié)電容”，支持“脈沖式一鍵加熱”和“分選機(jī)連接”

第一部分：規(guī)格環(huán)境

1.1、產(chǎn)品信息

產(chǎn)品型號：STD2000

產(chǎn)品名稱：半導(dǎo)體參數(shù)測試儀

1.2、物理規(guī)格

主機(jī)尺寸：深660*寬430*高210(mm)

主機(jī)重量：＜35kg

1.3、電氣環(huán)境

主機(jī)功耗：＜300W

海拔高度：海拔不超過4000m；

環(huán)境要求：-20℃～60℃（儲存）、5℃～50℃（工作）；

相對濕度：20%RH～75%RH (無凝露，濕球溫度計(jì)溫度 45℃以下)；

大氣壓力：86Kpa～106Kpa；

防護(hù)條件：無較大灰塵，腐蝕氣體，導(dǎo)電粉塵等；

電網(wǎng)要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；

工作時(shí)間：連續(xù)；

第二部分：應(yīng)用場景和產(chǎn)品特點(diǎn)

一、應(yīng)用場景

1、測試分析（功率器件研發(fā)設(shè)計(jì)階段的初始測試，主要功能為曲線追蹤儀）

2、失效分析（對失效器件進(jìn)行測試分析，查找失效機(jī)理。以便于對電子整機(jī)的整體設(shè)計(jì)和使用過程提出改善方案）

3、選型配對（在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測試，將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對）

4、來料檢驗(yàn)（研究所及電子廠的質(zhì)量部（IQC）對入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢，把控器件的良品率）

5、量產(chǎn)測試（可連接機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)等各類輔助機(jī)械設(shè)備，實(shí)現(xiàn)規(guī)?；⒆詣踊瘻y試）

6、替代進(jìn)口（STD2000IV半導(dǎo)體參數(shù)測試儀系統(tǒng)可替代同級別進(jìn)口產(chǎn)品）

二、產(chǎn)品特點(diǎn)

1、程控高壓源10~1400V，提供2000V選配；

2、程控高流源1uA~100A，提供40A,200A,500A選配；

3、驅(qū)動電壓10mV~40V

4、控制極電流10uA~100mA；

5、16位ADC，1M/S采樣速率；

6、自動識別器件極性NPN/PNP

7、曲線追蹤儀，四線開爾文連接保證加載測量的準(zhǔn)確

8、通過RS232接口連接校準(zhǔn)數(shù)字表，對系統(tǒng)進(jìn)行校驗(yàn)

9、不同的封裝形式提供對應(yīng)的夾具和適配器（如TO220、SOP-8、DIP、SOT-23等等）

10、半導(dǎo)體參數(shù)測試儀系統(tǒng)能測很多電子元器件（如二極管、三極管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、繼電器等等）；

11、半導(dǎo)體參數(shù)測試儀系統(tǒng)能實(shí)現(xiàn)曲線追蹤儀（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導(dǎo)/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導(dǎo)通內(nèi)阻Rds(on) ）

12、結(jié)電容參數(shù)也可以測試，諸如Cka，Crss，Coss；

13、脈沖電流自動加熱功能，方便高溫測試，無需外掛升溫裝置；

14、Prober接口、Handler接口可選（16Bin），連接分選機(jī)最高效率1h/9000個(gè)；

15、半導(dǎo)體參數(shù)測試儀系統(tǒng)在各大電子廠的IQC、實(shí)驗(yàn)室有著廣泛的應(yīng)用；

第三部分：產(chǎn)品介紹

3.1、產(chǎn)品介紹

STD2000半導(dǎo)體參數(shù)測試儀系統(tǒng)是由我公司技術(shù)團(tuán)隊(duì)結(jié)合IV半導(dǎo)體參數(shù)測試儀系統(tǒng)的多年經(jīng)驗(yàn)，以及眾多國內(nèi)外測試系統(tǒng)產(chǎn)品的熟悉了解后，完全自主開發(fā)設(shè)計(jì)的全新一代“IV半導(dǎo)體參數(shù)測試儀系統(tǒng)”。軟件及硬件均由團(tuán)隊(duì)自主完成。這就決定了這款產(chǎn)品的功能性和可靠性能夠得到持續(xù)完善和不斷的提升。

半導(dǎo)體參數(shù)測試儀系統(tǒng)脈沖信號源輸出方面，高壓源標(biāo)配1400V（選配2KV），高流源標(biāo)配100A（選配40A,200A,500A）柵極電壓40V，柵極電流100mA，分辨率最高至1uV / 1.5pA，精度最高可至0.1%。程控軟件基于Lab VIEW平臺編寫，填充式菜單界面。采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測試插座，自動補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。產(chǎn)品可測試 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs, DIODEs, MOSFETs, BJTs, SCRs 等7大類26分類的電子元器件。涵蓋電子產(chǎn)品中幾乎所有的常見器件。無論電壓電流源還是功能配置都有著極強(qiáng)的擴(kuò)展性。

產(chǎn)品為桌面放置的臺式機(jī)結(jié)構(gòu)，由測試主機(jī)和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器，還能夠通過Prober 接口、Handler 接口可選（16Bin）連接分選機(jī)和機(jī)械手建立工作站，實(shí)現(xiàn)快速批量化測試。通過軟件設(shè)置可依照被測器件的參數(shù)等級進(jìn)行自動分類存放。能夠極好的應(yīng)對“來料檢驗(yàn)”“失效分析”“選型配對”“量產(chǎn)測試”等不同場景。

半導(dǎo)體參數(shù)測試儀系統(tǒng)產(chǎn)品的可靠性和測試數(shù)據(jù)的重復(fù)性以及測試效率都有著非常優(yōu)秀的表現(xiàn)。創(chuàng)新的“點(diǎn)控式夾具”讓操作人員在夾具上實(shí)現(xiàn)一點(diǎn)即測。操作更簡單效率更高。測試數(shù)據(jù)可保存為EXCEL文本，方便快捷的完成曲線追蹤儀。

3.2、人機(jī)界面（STD2000IV半導(dǎo)體參數(shù)測試儀系統(tǒng)）

第四部分：功能配置

4.1、配置選項(xiàng)

STD2000半導(dǎo)體參數(shù)測試儀系統(tǒng)的功能配置如下

4.2、適配器選型

STD2000半導(dǎo)體參數(shù)測試儀系統(tǒng)的適配器有如下

第五部分：性能指標(biāo)

STD2000半導(dǎo)體參數(shù)測試儀系統(tǒng)的性能指標(biāo)如下

5.1、電流/電壓源（VIS）自帶VI測量單元

（1）加壓(FV)

量程±40V分辨率625uV精度±0.1% 設(shè)定值±3mV

量程±20V分辨率320uV精度±0.1% 設(shè)定值±3mV

量程±10V分辨率160uV精度±0.1% 設(shè)定值±3mV

量程±5V分辨率80uV精度±0.1% 設(shè)定值±2mV

量程±2V分辨率32uV精度±0.1% 設(shè)定值±2mV

（2）加流(FI)

量程±40A 分辨率625uA精度±0.5% 設(shè)定值±30mA

量程±4A 分辨率62.5uA精度±0.2% 設(shè)定值±2mA

量程±400mA分辨率6.25uA精度±0.1% 設(shè)定值±500uA

量程±40mA分辨率625nA精度±0.1% 設(shè)定值±50uA

量程±4mA分辨率62.5nA精度±0.1% 設(shè)定值±5uA

量程±400uA分辨率6.25nA精度±0.1% 設(shè)定值±500nA

量程±40uA分辨率625pA精度±0.1% 設(shè)定值±50nA

量程±4uA分辨率62.5pA精度±0.1% 設(shè)定值±5nA

說明：電流大于1.5A自動轉(zhuǎn)為脈沖方式輸出，脈寬范圍：300us-1000us可調(diào)

（3）電流測量(MI)

量程±40A分辨率1.22mA精度±1% 讀數(shù)值±20mA

量程±4A分辨率122uA精度±0.5% 讀數(shù)值±2mA

量程±400mA分辨率12.2uA精度±0.5% 讀數(shù)值±200uA

量程±40mA分辨率1.22uA精度±0.5% 讀數(shù)值±20uA

量程±4mA分辨率122nA精度±0.5% 讀數(shù)值±2uA

量程±400uA分辨率12.2nA精度±0.5% 讀數(shù)值±200nA

量程±40uA分辨率1.22nA精度±1% 讀數(shù)值±20nA

（4）電壓測量(MV)

量程±40V分辨率1.22mV精度±1% 讀數(shù)值±20mV

量程±20V分辨率122uV 精度±0.5% 讀數(shù)值±2mV

量程±10V分辨率12.2uV 精度±0.5% 讀數(shù)值±200uV

量程±5V分辨率1.22uV 精度±0.5% 讀數(shù)值±20uV

5.2、數(shù)據(jù)采集部分（VM）

16位ADC，1M/S采樣速率

（1）電壓測量(MV)

量程±2000V分辨率30.5mV精度±0.5%讀數(shù)值±200mV

量程±1000V分辨率15.3mV精度±0.2%讀數(shù)值±20mV

量程±100V分辨率1.53mV精度±0.1%讀數(shù)值±10mV

量程±10V分辨率153uV精度±0.1%讀數(shù)值±5mV

量程±1V分辨率15.3uV精度±0.1%讀數(shù)值±2mV

量程±0.1V分辨率1.53uV精度±0.2%讀數(shù)值±2mV

（2）漏電流測量(MI)

量程±100mA分辨率1.53uA精度±0.2%讀數(shù)值±100uA

量程±10mA分辨率153nA精度±0.1%讀數(shù)值±3uA

量程±1mA分辨率15.3nA精度±0.1%讀數(shù)值±300nA

量程±100uA分辨率1.53nA精度±0.1%讀數(shù)值±100nA

量程±10uA分辨率153pA精度±0.1%讀數(shù)值±20nA

量程±1uA 分辨率15.3pA精度±0.5%讀數(shù)值±5nA

量程±100nA分辨率1.53pA精度±0.5%讀數(shù)值±0.5nA

（3）電容容量測量

量程6nF分辨率10PF精度±5%讀數(shù)值±50PF

量程60nF分辨率100PF精度±5%讀數(shù)值±100PF

5.3、高壓源（HVS）(基本)12位DAC

（1）加壓(FV)

量程2000V/10mA分辨率30.5mV精度±0.5%設(shè)定值±500mV

量程200V/10mA分辨率30.5mV精度±0.2%設(shè)定值±50mV

量程40V/50mA分辨率30.5mV精度±0.1%設(shè)定值±5mV

（2）加流(FI)：

量程10mA分辨率3.81uA 精度±0.5%設(shè)定值±10uA

量程2mA分辨率381nA精度±0.5%設(shè)定值±2uA

量程200uA分辨率38.1nA精度±0.5%設(shè)定值±200nA

量程20uA分辨率3.81nA精度±0.5%設(shè)定值±20nA

量程2uA分辨率381pA精度±0.5%設(shè)定值±20nA

STD2000半導(dǎo)體參數(shù)測試儀系統(tǒng)能測很多電子元器件（如二極管、三極管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、繼電器等等）產(chǎn)品廣泛的應(yīng)用在院所高校、封測廠、電子廠.....